X熒光光譜儀是根據(jù)X射線熒光光譜分析方法配置的儀器，由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量，具有靈敏度高、精密度好、性能穩(wěn)定、分析速度快等特點(diǎn)，是一種中型、經(jīng)濟(jì)、高性能儀器。

　　該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強(qiáng)度準(zhǔn)確性和波長(zhǎng)準(zhǔn)確性以及強(qiáng)的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性，在儀器的軟件上，要求能夠進(jìn)行導(dǎo)數(shù)、去卷積等復(fù)雜的數(shù)學(xué)計(jì)算，能夠計(jì)算光譜間相似度、模式識(shí)別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫并進(jìn)行檢索。

　　今天小編要與大家分享的是X熒光光譜儀所常采用的三種測(cè)量方法：

　　1、時(shí)間延遲法：由產(chǎn)生熒光的原理可知，熒光從產(chǎn)生到*消失，它有一個(gè)時(shí)間過程（即從高能級(jí)的非穩(wěn)態(tài)躍遷到低能級(jí)的亞穩(wěn)態(tài)或穩(wěn)態(tài)的時(shí)間）。不同的物質(zhì)，這個(gè)時(shí)間的長(zhǎng)短是不一樣的，它們從幾微秒到幾分鐘不等。我們可以給探測(cè)器的快門一個(gè)延遲時(shí)間，讓激發(fā)光*消失后開始對(duì)熒光采樣。在一些特殊條件，如用反射探針測(cè)固體、液體的熒光時(shí)，光路無法90°布置，這時(shí)需要通過延遲采樣時(shí)間來分離出熒光。

　　2、濾波法：從熒光產(chǎn)生原理可知，熒光的波長(zhǎng)大于激發(fā)光的波長(zhǎng)。我們?cè)谔綔y(cè)器前面放一個(gè)長(zhǎng)通濾波片，它的截至波長(zhǎng)稍大于激發(fā)光波長(zhǎng)。這樣，只有熒光才能被探測(cè)器采集。該法的另一個(gè)好處是可以濾掉一部分雜散光，但是它也可能濾掉一部分熒光。

　　3、90°布置法：激發(fā)光和探測(cè)器90°方向布置。由于熒光沒有方向性，它向四周發(fā)射，因此可以把探測(cè)器放在與激發(fā)光成90°的位置來接收熒光。大部分的熒光測(cè)量裝置都采用此方法（同時(shí)常常配上其它方法）。